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超精密光学元件检测技术
点击数:225     发布日期:2024-03-13     发布部门:科学技术研究院     主图:     视频:     摄影:

报告题目:超精密光学元件检测技术


报告人姓名:于瀛洁


报告人简介

于瀛洁,上海大学研究员、博士生导师。现任上海大学机自学院院长、中国仪器仪表学会精密机械分会常务副主任委员兼总干事、中国计量测试学会计量仪器专业委员会常务委员等。主要从事光学检测和计算成像等方向研究,在超精密光学元件检测方面具有长期积累,承担了国家自然科学基金面上项目、国家重大科技专项课题、国家重点研发计划课题等研究工作。在国内外学术期刊发表SCI/EI论文100余篇、获授权发明专利30余项。联系方式:yingjieyu@staff.shu.edu.cn 


报告时间:2024316日星期六上午10


报告地点:自动化学院学术报告厅

举办部门:自动化学院、科学技术研究院


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